Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1.- Москва: Мир, 1984.- 303 с.
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 2.- Москва: Мир, 1984.- 348 с.
Эндрю К., Дайсон Д., Киоун С. Электронограммы и их интерпретация. – Москва: Мир, 1971.- 256 с.
Пинес Б.Я. Лекции по структурному анализу. – Харьков: ХГУ, 1967.- 476 с.
Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок.- Москва: Мир, 1989.- 342 с.
Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел.- Москва: Наука, 1985.- 288 с.
Черепин В.Т., Васильев М.А. Вторичная ионно-ионная эмиссия металлов и сплавов.- Киев: Наук. думка, 1975.- 240 с.