1. Электронная микроскопия / Под ред. Л. А Лебедева. – Москва: ГИТТЛ, 1954. – 636 с.
2. Томас Г., Гориндж М. Дж. Просвечивающая электронная микроскопия. – Москва: Наука, 1983. – 320 с.
3. Эдельман В. С. Сканирующая туннельная микроскопия // Приборы и техника эксперимента. – № 5. – 1989. – С. 25-48.
4. Эдельман В.С. Высоковольтный сканирующий туннельный микроскоп // Приборы и техника эксперимента. – № 4. – 1989. – С. 149-158.
5. Хайкин М. С. Сканирующий туннельный микроскоп с большим полем зрения // Приборы и техника эксперимента. – № 1. – 1989. – С. 161-165.
6. Бамбурин В.Б., Волков Ю.П., Шокшин М.Ф. Миниатюрный сканирующий туннельный микроскоп. // Приборы и техника эксперимента. – № 2. – 1996. – С. 141-142.
7. Сканирующая туннельная микроскопия – новый метод изучения поверхности твердых тел // Соросовский образовательный журнал. – 2000. – Т. 6, № 1. – С. 1-7.
8. Лифшиц В. Г. Современные приложения сканирующей туннельной микроскопии для анализа и модификации поверхности. // Соросовский образовательный журнал – 2001. – Т.7, №5. – С. 110-116.