Згідно з поширеною точкою зору амплітудний і фазовий контрасти є основними на мікроскопічних зображеннях. Перший із них поєднує в собі як тіньовий (проявляє себе на локальних ділянках), так і дифракційний контраст (проявляється при формуванні зображення дефектів, областей з напруженнями тощо), і проявляє себе у тому випадку, коли лінійні розміри об’єкта набагато перевищують міжатомні, а товщини зразка – відносно великі. Таким чином, за цих умов основна площа знімка формується завдяки амплітудному контрасту, оскільки супутні йому тіньовий і дифракційний контрасти проявляються лише локально.
При амплітудному контрасті зображення формується пучком електронів, які пройшли через зразок, і частиною пучка розсіяних (дифрагованих) електронів. Це означає, що амплітуда (а швидше за все, і фаза) первинного пучка не зберігається. У випадку фазового контрасту, який проявляє себе при високій розрізнювальній здатності, у діапазоні великих збільшень (М ~ 106) і при товщинах d ? 5 нм, розсіяний і той, що пройшов зразок, пучки зводяться у площині зображення, і вони зберігають свої як фазу, так і амплітуду. Фазовий контраст дозволяє отримати зображення кристалографічних площин (рис. 6.9а) і навіть “зображення” окремих атомів (рис. 6.9б,в). Узявши слово ”зображення” в лапки, ми тим самим підкреслили: як і на рис 6.9б,в, ми спостерігаємо не зображення атома, а його
місцерозташування, яке проявилося в результаті складного процесу взаємодії хвилі та квантового об’єкта-атома. Зауважимо також, що мікроскопічні зображення на рис. 6.9 можна трактувати як найбільше досягнення ПЕМ на даний момент.
