Томас Г., Гориндж М.Дж. Просвечивающая электронная микроскопия.- М.: Наука, 1983.- 320 с.
Хейденрах Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии.- М.: Мир, 1966.- 471 с.
Шиммель Г. Методика электронной микроскопии.- М.: Мир, 1972.- 300с.
Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. Книга 1.- М.: Мир, 1984.- 303 с.
Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок.- М.: Мир, 1989.- 342 с.
Эндрюс К., Дайсон Д., Киоун С. Электронограммы и их интерпретация.- М.: Мир, 1971.- 256 с.
Пинес Б.Я. Лекции по структурному анализу.- Харьков: ХГУ, 1967.- 476 с.
Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов.- М.: Ф-М, 1961.- 863 с.
Горелик С.С., Расторгуев Л.Н., Скаков Ю.А. Рентгенографический и электронографический анализ. Приложение.- М.: Металлургия, 1970.-107 с.
Ермолов И.Н., Останин Ю.Я. Методы и средства неразрушающего контроля качества.- М.: ВШ, 1988.- 340 с.
Проценко І.Ю., Шумакова Н.І., Овчаренко Ю.М. Фізика твердого тіла.- Суми: СумДУ, 2002.- 76 с.